Les méthodes interférentielles sont applicables en microscopie et permettent l'observation d'objets déphasants de petites dimensions. La figure de principe donne un schéma d'un microscope interférentiel destiné à l'observation d'objets réfléchissants ne présentant que des variations d'épaisseurs. Un système biréfringent B placé entre deux polariseurs non représentés sur la figure peut être interposé entre l'objet réfléchissant A et l'objectif O du microscope. L'image A' est observée à l'aide de l'oculaire Oc. Le système biréfringent B dédouble l'onde qui a traversé l'objet et il y a interférences de ces deux ondes suivant la méthode différentielle si le dédoublement est suffisamment petit. Si le dédoublement est visible, on peut faire des mesures directes du chemin optique. Ces méthodes s'appliquent particulièrement bien à l'étude de la croissance de cristaux aussi bien en lumière réfléchie qu'en lumière transmise. Microscope1 : Cristal d'alun d'ammonium (isotrope) observé au microscope interférentiel à polarisation (méthode différentielle). Microscope2 : Cristal de carbure de sillicium observé par réflexion au microscope interférentiel à polarisation. Le dédoublement est ici visible sous forme de petites bandes : il permet la mesure des épaisseurs. Microscope3 : Défauts d'une plaquette de germanium observés par réflexion au microscope interférentiel à polarisation (méthode différentielle). Microscope4 : Cristal de carbure de silicium observé par réflexion au microscope interférentiel à polarisation (le dédoublement est visible). Les images sont extraites de l'Atlas de phénomènes d'optique. Édition Springer-Verlag New-York ISBN 0-387-05366-2