Anneaux obtenus à l'interféromètre de Michelson (432nm, épaisseur 0,15mm) - SFO - La Société Française d'Optique
Image Year : 2008

Anneaux obtenus à l'interféromètre de Michelson (432nm, épaisseur 0,15mm)

Agnès Maître
  • Function : Author
  • PersonId : 870939
Institut des Nanosciences de Paris
Gérard Rebmann
  • Function : Author
  • PersonId : 846975
SFO Enseignement
Saïda Guellati-Khélifa
Laboratoire Kastler Brossel

Abstract

Interférences obtenues avec un interféromètre de Michelson, éclairé par une source monochromatique étendue spatialement incohérente. Le michelson est réglé en lame à faces parallèles d'épaisseur 0,15mm.

Domains

Interférences [535.4*]

Gérard Rebmann  : Connect in order to contact the contributor

https://hal-sfo.ccsd.cnrs.fr/sfo-00259986

Submitted on : Saturday, March 1, 2008-4:20:14 PM

Last modification on : Friday, April 19, 2024-4:18:54 PM

Long-term archiving on : Thursday, May 20, 2010-11:48:44 PM

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Dates and versions

sfo-00259986 , version 1 (01-03-2008)

Identifiers

  • HAL Id : sfo-00259986 , version 1

Cite

Agnès Maître, Gérard Rebmann, Saïda Guellati-Khélifa. Anneaux obtenus à l'interféromètre de Michelson (432nm, épaisseur 0,15mm). 2008. ⟨sfo-00259986⟩

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