Anneaux obtenus à l'interféromètre de Michelson (432nm, épaisseur 0,75mm) - SFO - La Société Française d'Optique
Image Year : 2008

Anneaux obtenus à l'interféromètre de Michelson (432nm, épaisseur 0,75mm)

Agnès Maître
  • Function : Author
  • PersonId : 870939
Institut des Nanosciences de Paris
Gérard Rebmann
  • Function : Author
  • PersonId : 846975
SFO Enseignement
Saïda Guellati-Khélifa
Laboratoire Kastler Brossel

Abstract

Interférences obtenues avec un interféromètre de Michelson, éclairé par une source monochromatique étendue spatialement incohérente. Le michelson est réglé en lame à faces parallèles d'épaisseur 0,75mm.

Domains

Electromagnétisme, optique ondulatoire, optique classique [535.01] Interférences [535.4*]

Gérard Rebmann  : Connect in order to contact the contributor

https://hal-sfo.ccsd.cnrs.fr/sfo-00259982

Submitted on : Friday, October 17, 2008-11:49:45 PM

Last modification on : Friday, April 19, 2024-4:18:54 PM

Long-term archiving on : Thursday, May 20, 2010-11:48:18 PM

Download

Dates and versions

sfo-00259982 , version 1 (17-10-2008)

Identifiers

  • HAL Id : sfo-00259982 , version 1

Cite

Agnès Maître, Gérard Rebmann, Saïda Guellati-Khélifa. Anneaux obtenus à l'interféromètre de Michelson (432nm, épaisseur 0,75mm). 2008. ⟨sfo-00259982⟩

Export

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

ENS-PARIS UPMC LKB CNRS INSP ALLINSP PSL SORBONNE-UNIVERSITE SU-SCIENCES
143 View
123 Download

Share

More